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超聲波探傷中,當(dāng)工件中缺陷尺寸大于聲束截面時(shí),一般采用測(cè)長(zhǎng)法來(lái)確定缺陷的長(zhǎng)度

日期:2024-10-23 05:40
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摘要:超聲波探傷中,當(dāng)工件中缺陷尺寸大于聲束截面時(shí),一般采用測(cè)長(zhǎng)法來(lái)確定缺陷的長(zhǎng)度 測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)缺陷波高與探頭移動(dòng)距離來(lái)確定缺陷的尺寸。按規(guī)定的方法測(cè)定的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的指示長(zhǎng)度。由于實(shí)際工件中缺陷的取向、性質(zhì)、表面狀態(tài)等都會(huì)影響缺陷回波高度,因此缺陷的指示長(zhǎng)度總是小于或者等于缺陷的實(shí)際長(zhǎng)度。 根據(jù)測(cè)定缺陷長(zhǎng)度時(shí)的靈敏度基準(zhǔn)不同將測(cè)長(zhǎng)法分為相對(duì)靈敏度法、**靈敏度法和端點(diǎn)峰值法。 1、相對(duì)靈敏度測(cè)長(zhǎng)法 相對(duì)靈敏度測(cè)長(zhǎng)法是以缺陷*高回波為相對(duì)基準(zhǔn)、沿缺陷的長(zhǎng)度方向移動(dòng)探頭,降低一定的dB值來(lái)測(cè)定缺陷的長(zhǎng)度。降低的dB值有3dB、6dB、12dB、20dB等幾種。常用的是6dB法和端點(diǎn)6dB法。
超聲波探傷中,當(dāng)工件中缺陷尺寸大于聲束截面時(shí),一般采用測(cè)長(zhǎng)法來(lái)確定缺陷的長(zhǎng)度
        測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)缺陷波高與探頭移動(dòng)距離來(lái)確定缺陷的尺寸。按規(guī)定的方法測(cè)定的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的指示長(zhǎng)度。由于實(shí)際工件中缺陷的取向、性質(zhì)、表面狀態(tài)等都會(huì)影響缺陷回波高度,因此缺陷的指示長(zhǎng)度總是小于或者等于缺陷的實(shí)際長(zhǎng)度。
        根據(jù)測(cè)定缺陷長(zhǎng)度時(shí)的靈敏度基準(zhǔn)不同將測(cè)長(zhǎng)法分為相對(duì)靈敏度法、**靈敏度法和端點(diǎn)峰值法。
1、相對(duì)靈敏度測(cè)長(zhǎng)法
        相對(duì)靈敏度測(cè)長(zhǎng)法是以缺陷*高回波為相對(duì)基準(zhǔn)、沿缺陷的長(zhǎng)度方向移動(dòng)探頭,降低一定的dB值來(lái)測(cè)定缺陷的長(zhǎng)度。降低的dB值有3dB、6dB、12dB、20dB等幾種。常用的是6dB法和端點(diǎn)6dB法。
(1)6dB法(半波高度法):由于波高降低6dB后正好為原來(lái)的一半,因此6dB法又稱半波高度法。
        半波高度法的具體做法是:移動(dòng)探頭找到缺陷的*大反射波(不能達(dá)到飽和)然后沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,當(dāng)缺陷波高降低一半時(shí),探頭中心線之間距離就是缺陷的指示長(zhǎng)度。
        6dB法的具體做法是:移動(dòng)探頭找到缺陷的*大反射波后,調(diào)節(jié)衰減器,使缺陷波高降至基準(zhǔn)波高。然后再用衰減器將儀器靈敏度提高6dB,沿缺陷方向移動(dòng)探頭,當(dāng)缺陷波高降至基準(zhǔn)波高時(shí),探頭中心線之間距離就是缺陷的指示長(zhǎng)度,如(圖一)所示。
 
圖一、半波高度法(6dB法)

        半波高度法(6dB法)是用來(lái)對(duì)缺陷測(cè)長(zhǎng)較常用的一種方法。適用于測(cè)長(zhǎng)掃查過(guò)程中缺陷波只有一個(gè)高點(diǎn)的情況。

(2)端點(diǎn)6dB法(端點(diǎn)半波高度法):當(dāng)缺陷各部分反射波高有很大變化時(shí),測(cè)長(zhǎng)采用端點(diǎn)6dB法。

        端點(diǎn)6dB法測(cè)長(zhǎng)的具體做法是:當(dāng)發(fā)現(xiàn)缺陷后,探頭沿著缺陷方向左右移動(dòng),找到缺陷兩端的*大反射波,分別以這兩個(gè)端點(diǎn)反射波高為基準(zhǔn),繼續(xù)向左、向右移動(dòng)探頭,當(dāng)端點(diǎn)反射波高降低一半時(shí)(或

6dB時(shí)),探頭中心線之間的距離即為缺陷的指示長(zhǎng)度,如(圖二)所示。
 
圖二、端點(diǎn)6dB法測(cè)長(zhǎng)

        這種方法適用于測(cè)長(zhǎng)掃查過(guò)程中缺陷反射波有多個(gè)高點(diǎn)的情況。
        半波高度法和端點(diǎn)6dB法都屬于相對(duì)靈敏度法,因?yàn)樗鼈兪且员粶y(cè)缺陷本身的*大反射波或以缺陷本身兩端*大反射波為基準(zhǔn)來(lái)測(cè)定缺陷長(zhǎng)度的。

2、**靈敏度測(cè)長(zhǎng)法

        **靈敏度測(cè)長(zhǎng)法是在儀器靈敏度一定的條件下,探頭沿缺陷長(zhǎng)度方向平行移動(dòng),當(dāng)缺陷波高降到規(guī)定位置時(shí),如(圖三)所示B線,探頭移動(dòng)的距離,即為缺陷的指示長(zhǎng)度。
 
 圖三、**靈敏度測(cè)長(zhǎng)法

        **靈敏度測(cè)長(zhǎng)法測(cè)得的缺陷指示長(zhǎng)度與測(cè)長(zhǎng)靈敏度有關(guān)。測(cè)長(zhǎng)靈敏度高,缺陷長(zhǎng)度大。在自動(dòng)探傷中常用**靈敏度法測(cè)長(zhǎng)。

3、端點(diǎn)峰值法

        探頭在測(cè)長(zhǎng)掃查過(guò)程中,如發(fā)現(xiàn)缺陷反射波峰值起伏變化,有多個(gè)高點(diǎn)時(shí),則可以缺陷兩端反射波極大值之間探頭的移動(dòng)長(zhǎng)度來(lái)確定為缺陷指示長(zhǎng)度,如(圖四)所示。這種方法稱為端點(diǎn)峰值法。

 

圖四、端點(diǎn)峰值測(cè)長(zhǎng)法
        端點(diǎn)峰值法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度比端點(diǎn)6dB法測(cè)得的指示長(zhǎng)度要小一些。端點(diǎn)峰值法只適用于測(cè)長(zhǎng)掃查過(guò)程中,缺陷反射波有多個(gè)高點(diǎn)的情況。


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