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測(cè)厚儀的基本分類(lèi)
日期：2024-10-22 16:17
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摘要：
測(cè)厚儀的基本分類(lèi)
測(cè)厚儀的基本分類(lèi)？測(cè)厚儀按照測(cè)量的方式不同，可大致分為:
1、接觸式測(cè)厚儀
接觸面積大小劃分:
點(diǎn)接觸式測(cè)厚儀
面接觸時(shí)測(cè)厚儀
2、非接觸式測(cè)厚儀
非接觸式測(cè)厚儀根據(jù)其測(cè)試原理不同，又可分為以下幾種:
激光測(cè)厚儀
超聲波測(cè)厚儀
涂層測(cè)厚儀
X射線(xiàn)測(cè)厚儀
白光干涉測(cè)厚儀
電解式測(cè)厚儀
測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有:磁性測(cè)厚法，放射測(cè)厚法，電解測(cè)厚法，渦流測(cè)厚法，超聲波測(cè)厚法。
測(cè)厚儀的基本分類(lèi)
測(cè)厚儀的基本分類(lèi)？測(cè)厚儀按照測(cè)量的方式不同，可大致分為:1、接觸式測(cè)厚儀
接觸面積大小劃分:
點(diǎn)接觸式測(cè)厚儀
面接觸時(shí)測(cè)厚儀
2、非接觸式測(cè)厚儀
非接觸式測(cè)厚儀根據(jù)其測(cè)試原理不同，又可分為以下幾種:
激光測(cè)厚儀
超聲波測(cè)厚儀
涂層測(cè)厚儀
X射線(xiàn)測(cè)厚儀
白光干涉測(cè)厚儀
電解式測(cè)厚儀
測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有:磁性測(cè)厚法，放射測(cè)厚法，電解測(cè)厚法，渦流測(cè)厚法，超聲波測(cè)厚法。
