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產(chǎn)品目錄
產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:MiniTest 740涂層測厚儀

  • 產(chǎn)品型號:
  • 產(chǎn)品廠商:其它品牌
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簡單介紹:
MiniTest 740涂層測厚儀技術詳解: -**的SIDSP(探頭內部數(shù)字信號處理)技術提升了測量的**性 -測量范圍達15mm,可更換F、N或FN探頭,供內置或外接探頭使用 -FN探頭自動識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯 SIDSP技術-全球*新技術,智能數(shù)字化的涂層測厚探頭 模擬信號處理時代已成過去,數(shù)字信號處理將成為未來的趨勢 MiniTest 740涂層測厚儀 采用的SIDSP是什么? SIDSP是由ElektrPhysik(簡稱EPK)研發(fā)的,****的涂層測厚探頭技術。EPK此項技術為涂層測厚領域的**奠定了新標準。 SIDSP即探頭內部數(shù)字信號處理,這項技術使探頭在測量時,同時在探頭內部將信號完全處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭完全依據(jù)世界****生產(chǎn)。 MiniTest 740涂層測厚儀 的SIDSP工作原理? 跟傳統(tǒng)技術不同
詳情介紹:

MiniTest 740涂層測厚儀技術詳解

-**的SIDSP(探頭內部數(shù)字信號處理)技術提升了測量的**性

-測量范圍達15mm,可更換F、NFN探頭,供內置或外接探頭使用

-FN探頭自動識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯

 SIDSP技術-全球*新技術,智能數(shù)字化的涂層測厚探頭 
模擬信號處理時代已成過去,數(shù)字信號處理將成為未來的趨勢

MiniTest 740涂層測厚儀  采用的SIDSP是什么?
SIDSP是由ElektrPhysik(簡稱EPK)研發(fā)的,****的涂層測厚探頭技術。EPK此項技術為涂層測厚領域的**奠定了新標準。
SIDSP即探頭內部數(shù)字信號處理,這項技術使探頭在測量時,同時在探頭內部將信號完全處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭完全依據(jù)世界****生產(chǎn)。

MiniTest 740涂層測厚儀 SIDSP工作原理?
跟傳統(tǒng)技術不同,SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號,回傳的信號經(jīng)過32位數(shù)字轉換和處理,帶給您**的涂層厚度值。此項**的數(shù)字處理技術,同時應用在現(xiàn)代通訊技術(手機網(wǎng)絡)方面,如數(shù)字濾波器,基帶轉換,平均值,隨機分析,等等。此項技術能獲得與模擬信號處理無可比擬的信號質量和**度。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。
SIDSP探頭與普通模擬探頭相比,具有決定性的優(yōu)勢,為涂層測厚設定了一個新的標準。
MiniTest 740涂層測厚儀 為什么選擇SIDSP?
SIDSP探頭具有極高的抗干擾性
任何與測量相關的信號,都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進行處理。測量信號不會通過探頭電纜傳輸時受到干擾,因為不再有測量信號的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電,并傳輸數(shù)字化的厚度值到顯示裝置。即使您的測量工件需要特別長的電纜線也沒問題,加長的電纜線同樣具有極強的抗干擾能力。

 MiniTest 740涂層測厚儀 SIDSP-測量信號高穩(wěn)定性
EPK的SIDSP探頭具有極高的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測量點測量幾次,每次您都可以得到基本一樣的結果,再次證明了SIDSP探頭的優(yōu)良性能。

 MiniTest 740涂層測厚儀高**度的SIDSP探頭特征曲線
在生產(chǎn)過程中,EPK的SIDSP探頭要經(jīng)過嚴格的校準。一般的模擬探頭只會在特征曲線上選幾個點來校準,但SIDSP探頭不同:由于是全自動化過程,探頭在50個點上進行校準,大大降低了特征曲線的偏離。因此特征曲線在整個量程范圍內都十分精準,將測量錯誤降至*低。

 MiniTest 740涂層測厚儀 SIDSP探頭對溫度變化不敏感
在生產(chǎn)過程中,對每個SIDSP探頭都進行了溫度補償?shù)木幋a,這對于模擬探頭是根本不可能實現(xiàn)的。這樣溫度改變就不會影響測量,與溫度相關的錯誤不會在SIDSP探頭上發(fā)生!
 MiniTest 740涂層測厚儀 SIDSP探頭適應性強
需要快速測量幾個點嗎?只要開啟快速測量模式,探頭自動轉換到特定設置。想進行高精度測量嗎?沒問題,只要選擇高精度模式,儀器同樣能自動轉換。不論您要求測量單個數(shù)值還是連續(xù)測量,SIDSP都能完成您的選擇!
MiniTest 740涂層測厚儀 SIDSP N和FN型探頭基體導電性補償
由于使用了EPK特殊的自動補償方法,SIDSP電渦流探頭可以適應多種導電性不同的非鐵基體材料,如銅,鈦,等等,無需特別在基體上校準儀器。

 MiniTest 740涂層測厚儀 SIDSP-未來解決方案
EPK將繼續(xù)改進SIDSP技術以滿足客戶的需求。您可以從EPK的網(wǎng)站進行免費的軟件升級,使您的SIDSP探頭總是*新版本。

MiniTest 740涂層測厚儀 SIDSP
新的MiniTest 700產(chǎn)品線,加強了EPK在全球涂層測厚市場的領導地位.

有了新的SIDSP F型探頭(測量鐵基體)和N型探頭(測量非鐵基體),您可享受到高**度和高重現(xiàn)性帶給您的優(yōu)勢和便利。新的MiniTest 700可以解決您所有涂層厚度問題,而產(chǎn)品上等的外觀是您長期價值和成功的關鍵,比如汽車、造船、鋼鐵、橋梁建筑,或電鍍等行業(yè)。

MiniTest 740涂層測厚儀 增加了測量速度設置選項
MINITEST 700可以讓您輕松變換測量需求。在對精度要求不高的條件下,您可以短時間測量大量數(shù)值;也可以只測量少數(shù)幾個數(shù)值,但要求精度很高,您只需選擇相應的模式就可以做到。測量值超過您所設定的極限值時,儀器會報警,保證您即使在快速模式下也不會錯過任何信息。儀器具備聲、光報警,在極限范圍內用綠色LED燈表示,超過極限值則用紅色LED燈提示。

MiniTest 740涂層測厚儀 使用簡單方便
MiniTest 700按照人體工學設計,外形很適合人手掌握。為了質量控制和檢驗的靈活性,MINITEST 740可以輕易由內置探頭變換為外置探頭,方便測量難以到達的部位。MINITEST 700系列可以滿足您所有涂層測量需求:如果您想單手測量,可以選擇內置探頭的720。730則是外置探頭的。所有型號都配有一個超大、背光的顯示屏,顯示內容可以180度旋轉,方便您讀取數(shù)據(jù)。
預設選項節(jié)省您的時間和**
所有MiniTest 700探頭都可以對不規(guī)則形狀表面做出補償。當您在無涂層基體上校零時,整個量程范圍都在這個特定的形狀和材料基礎上進行校準。為節(jié)省您的時間和**,儀器預設了大量校準方法,適用于各種表面情況和精度要求。您可選擇出廠校準,零點校準,2點校準和3點校準。另外,還有針對不同粗糙程度的粗糙度校準。FN探頭自動識別基體類型避免操作者犯錯。為適應全球銷售需要,MINITEST 700滿足各種國際標準:SSPC-PA2,ISO,瑞典(SS184160),澳大利亞(AS 3894.3),ISO 19840和ASTM D7091(以前的D1186和D1400)。

MMiniTest 720/730/740涂層測厚儀 優(yōu)點一覽:
-SIDSP使測量不受干擾,測值更加**
-可更換探頭使用更加靈活(MINITEST 740探頭可由內置換為外置)
-FN探頭自動識別基體,使測量更迅速,避免操作錯誤
-溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
-生產(chǎn)過程中50點校準使儀器獲得高**度的特征曲線
-大存儲量,能存儲10或100組多達100,000個讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計值能單獨調出
-超大,背光顯示屏,顯示內容可180度旋轉
-菜單指引操作,25種語言可選
-帶IrDA接口,紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機和PC
-可下載更新軟件

MiniTest 720/730/740涂層測厚儀標準配置:                                     推薦配件:
帶塑料手提箱,內含:                                                                           -F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架
-MiniTest 720(內置探頭)
--或MiniTest 730(外置探頭)
--或MiniTest 740主機(不含探頭,有各種探頭可選)
-校準套裝含校準片和零板
-操作使用說明CD,德語、英語、法語、西班牙語
-2節(jié)AA電池
 MiniTest 720/730/740涂層測厚儀技術數(shù)據(jù)表 
SIDSP探頭


探頭 
特性

F1.5,N0.7,FN1.5

F2

F5,N2.5FN5

F15

F

N

F

F

N

F

測量范圍

0-1.5mm

0-0.7mm

0-2mm

0-5mm

0-2.5mm

0-15mm

使用范圍

小工件,薄涂層,跟測量支架一起使用

粗糙表面

標準探頭,使用廣泛

厚涂層

測量原理

磁感應

電渦流

磁感應

磁感應

電渦流

磁感應

信號處理

探頭內部32位信號處理(SIDSP

**度

±1μm+0.75%讀值)

±1.5μm+0.75%讀值)

±5μm+0.75%讀值)

重復性

±0.5μm+0.5%讀值)

±0.8μm+0.5%讀值)

±2.5μm+0.5%讀值)

低端分辨率

0.05μm

0.1μm

1μm

*小曲率半徑(凸)

1.0mm

1.5mm

5mm

*小曲率半徑(凹,外置探頭)

7.5mm

10mm

25mm

*小曲率半徑(凹,內置探頭)

30mm

30mm

30mm

*小測量面積

Φ5mm

Φ10mm

Φ25mm

*小基體厚度

0.3mm

40μm

0.5mm

0.5mm

40μm

1mm

連續(xù)模式下測量速度

每秒20個讀數(shù)

單值模式下*大測量速度

每分鐘70個讀數(shù)

MiniTest 720/730/740涂層測厚儀主機


型號 
特性

MiniTest 720

MiniTest 730

MiniTest 740

探頭類型

內置

外置

內置外置可換

數(shù)據(jù)記憶組數(shù)

10

10

100

存儲數(shù)據(jù)量

*多10,000

*多10,000

*多100,000

統(tǒng)計值

讀值個數(shù),*小值,*大值,平均值,標準方差,變異系數(shù),組統(tǒng)計值(標準設置/自由配置)

校準程序符合國際標準和規(guī)范

ISO,SSPC,瑞典標準,澳大利亞標準

校準模式

出廠設置校準,零點校準,2點校準,3點校準,使用者可調節(jié)補償值

極限值監(jiān)控

聲、光報警提示超過極限

測量單位

ummm,cmmils,inch,thou

操作溫度

-10℃-60℃

存放溫度

-20℃-70℃

數(shù)據(jù)接口

IrDA 1.0(紅外接口)

電源

2節(jié)AA電池

標準

DIN EN ISO 14612064,21782360,2808388219840
ASTM B244
,B499,D7091E376
AS 3894.3
,SS 1841 60,SSPC-PA 2

體積

157mm x 75.5mm x 49mm

重量

175g

210g

175g(內置)/230g(外置)

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